ЖелезоZEISS Crossbeam 750: революция в анализе полупроводников с помощью FIB-SEM
Новая система ZEISS Crossbeam 750 устанавливает стандарт в области подготовки образцов для электронной микроскопии и нанофабрикации. Инструмент сочетает передовые технологии сканирующей электронной микроскопии (SEM) и сфокусированного ионного пучка (FIB), обеспечивая высокую разрешающую способность, улучшенное соотношение сигнал/шум и расширенное поле зрения. Это позволяет специалистам по анализу отказов, контролю выхода годных и материаловедению быстрее получать точные данные для принятия решений.
Читать далее






